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Uni-ViEW250 IICNC 非接觸式影像量測儀器
   
 
     
ViEW250II
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  • 獨創高重複性之雷射輔助對焦系統
  • 雷射斷差自動量測系統
  • 自動變焦系統
  • 自動對焦系統
  • 自動定位功能
  • 精靈式之教導程式淺顯易懂
  • 人性化之中文操作介面操作零負擔
客製化系統
MASK ViEW250II CNC光罩膠寬量測系統
 
           
 
METICE HQ-Series金相顯微量測儀器
           
     
  • 搭配MultiCam Advance 2008量測軟體
  • 超高速光學尺解碼器(Max: 115200)
  • 完整的幾何量測功能
  • 高重複性的Z軸精密電子微調手輪對焦功能(+/-1um)
  • 動態邊界逼近功能
  • 高解析影像貼圖量測功能
  • 影像匯入量測功能
  • 放大鏡精準取點功
  • 巨集編輯功能,由雷達圖指引精靈(GPS)指示定位
  • 空白鍵十字線及滑鼠雙取點功能
  • 十字線自動尋邊功能
  • 使用者設訂專屬的量測環境
  • 彈性的尺規與比例尺功能
  • 量測資料自動填入報表亦可匯入Excel
  • 量測結果與影像可一併匯入Office Word
  • 自動框選量測功能提高量測重複性精度
  •  明暗對比或影像處理功能來突顯邊界輕鬆量測
  • 公英制單位切換及十字線屬性設定提供使用者設定專屬的量測環境
  • Z軸精密電子微調手輪, 及系統內建十組快速移動速率
 
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客製化系統
MLCC Multi-layer自動計數功能
Particle 自動計數功能

 
   
         
Olympus BXFM 金相顯微量測儀器
         
 
  • 採用Olympus BXFM 光學鏡頭
  • 搭配MultiCam USB Advance 量測軟體
  • 超高速光學尺解碼器(Max: 115200)
  • 完整的幾何量測功能
  • 高重複性的Z軸精密電子微調手輪對焦功能(+/-1um)
  • 動態邊界逼近功能
  • 高解析影像貼圖量測功能
  • 影像匯入量測功能
  • 放大鏡精準取點功
  • 巨集編輯功能,由雷達圖指引精靈(GPS)指示定位
  • 空白鍵十字線及滑鼠雙取點功能
  • 十字線自動尋邊功能
  • 使用者設訂專屬的量測環境
  • 彈性的尺規與比例尺功能
  • 量測資料自動填入報表亦可匯入Excel
  • 量測結果與影像可一併匯入Office Word
  • 自動框選量測功能提高量測重複性精度
  •  明暗對比或影像處理功能來突顯邊界輕鬆量測
  • 公英制單位切換及十字線屬性設定提供使用者設定專屬的量測環境
  • Z軸精密電子微調手輪, 及系統內建十組快速移動速率
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METICE LC-Series變焦顯微量測儀器
       
 
  • 搭配LC Advance M8量測軟體
  • 超高速光學尺解碼器(Max: 11520
  • 獨步同業的Counter及光源整合控制器
  • 軟體可直接控環型、輪廓及同軸制三種光源
  • 完整的幾何量測功能
  • 高重複性的雷射輔助對焦功能(選配)
  • 動態邊界逼近功能
  • 高解析影像貼圖量測功能
  • 影像匯入量測功能
  • 放大鏡精準取點功
  • 巨集編輯功能,由雷達圖指引精靈(GPS)指示定位
  • 空白鍵十字線及滑鼠雙取點功能
  • 十字線自動尋邊功能
  • 彈性的尺規與比例尺功能
  • 量測資料自動填入自訂報Excel表
  • 量測結果與影像可一併匯入Office Word/Excel
  • 自動框選量測功能提高量測重複性精度
  • 公英制單位切換及十字線屬性設定提供使用者設定專屬的量測環境

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METICE HQ-Series變焦顯微量測儀器
       
 
  • 搭配MultiCam Advance 2008量測軟體
  • 超高速光學尺解碼器(Max: 115200)
  • 完整的幾何量測功能
  • 高重複性的雷射輔助對焦功能(選配)
  • 動態邊界逼近功能
  • 強大的影像處理功能
  • 影像快速擷取呼出量測功能
  • 影像匯入量測功能
  • 放大鏡精準取點功
  • 巨集編輯功能,由雷達圖指引精靈(GPS)指示定位
  • 空白鍵十字線及滑鼠雙取點功能
  • 十字線自動尋邊功能
  • 使用者設訂專屬的量測環境
  • 彈性的尺規與比例尺功能
  • 量測資料自動填入報表亦可匯入Excel
  • 量測結果與影像可一併匯入Office Word
  • 自動框選量測功能提高量測重複性精度
  •  明暗對比或影像處理功能來突顯邊界輕鬆量測
  • 公英制單位切換及十字線屬性設定提供使用者設定專屬的量測環境
  • Z軸精密電子微調手輪, 及系統內建十組快速移動速率
  • 雷射輔助高度深度量測系統
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